1.1 Forschungszentrum Jülich GmbH
Wilhelm-Johnen-Straße
52428 Jülich 

E-Mail: n.breker@fz-juelich.de
 

2. Verfahren

2.1 Verfahren Titel: W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Beschreibung: XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Kennung des Verfahrens: 83fa1163-6db3-400e-9959-3eb645a573cb
Interne Kennung: W10-42390699
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb

2.1.1 Zweck Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38510000 Mikroskope

2.1.2 Erfüllungsort Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland

2.1.3 Wert Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR

2.1.4 Allgemeine Informationen Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -

5. Los

5.1 Los: LOT-0000 Titel: W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Beschreibung: XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Interne Kennung: W10-42390699

5.1.1 Zweck Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38510000 Mikroskope

5.1.2 Erfüllungsort Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland

5.1.5 Wert Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR

5.1.6 Allgemeine Informationen Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
Zusätzliche Informationen: Gemäß § 39, Abs. 6, Nr. 3 VgV zählt der tatsächliche Preis zu den Informationen, die den geschäftlichen Interessen des Unternehmens schaden könnten. Daher wird in dieser Bekanntmachung lediglich der Schwellenwert angegeben.

5.1.7 Strategische Auftragsvergabe Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung

5.1.10 Zuschlagskriterien Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Beschreibung siehe oben.
Beschreibung der anzuwendenden Methode, wenn die Gewichtung nicht durch Kriterien ausgedrückt werden kann: Siehe technische Spezifikation.
Begründung, warum die Gewichtung der Zuschlagskriterien nicht angegeben wurde: Wir verweisen diesbezüglich auf § 160 GWB: (1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. (2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

5.1.15 Techniken Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
Elektronische Auktion: nein

5.1.16 Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung Überprüfungsstelle: Vergabekammer des Bundes
Informationen über die Überprüfungsfristen: Gemäß VgV.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die die Zahlung ausführt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Forschungszentrum Jülich GmbH

6. Ergebnisse   Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 216 000,00 EUR
  Direktvergabe:
  Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
  Sonstige Begründung: Beschaffungshintergrund: Die geplante Plattform umfasst ein extrem hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (XHR-SEM/STEM) mit ergänzender Energieverlustspektroskopie (EELS) und zwei gegenüberliegenden, EDX-Detektoren (EDS). Im Vergleich zu TEM-Systemen erlaubt dieses SEM:  

• Hochauflösende Messungen bei niedrigerer Elektronenenergie
• Keine aufwändige Probenpräparation
• Weniger Strahlenschäden
• Höhere Messgeschwindigkeit

Diese Kombination bietet eine bisher unerreichte analytische Empfindlichkeit und räumliche Auflösung für Materialforschung im Energiebereich. Nachfolgende technische Anforderungen des Institutes ER-C-1 werden nur durch das System der Fa. Hitachi High-Tech Europe GmbH vollumfänglich erfüllt:

• Bildauflösung (XHR): ≤ 0,4 nm (SE) / ≤ 0,34 nm (STEM) bei 30 kV. (Erforderlich zur atomaren Auflösung bei energiebezogenen Materialien.)
• Dual-EDS-System: Zwei gegenüberliegende, Detektoren mit >10× höherer Sammelausbeute. (Maximiert die chemische Analyseempfindlichkeit, insbesondere für leichte Elemente.)
• EELS-System: Mit Projektionslinse und variabler Kamera-Länge. (Ermöglicht Analyse leichter Elemente (z. B. Li, N) und Plasmonen.)
• Elektronenenergie: Niedrigenergie-Betrieb (≤30 kV). (Reduziert Strahlenschäden, wichtig für empfindliche Proben.)
• Komplementäre Analytik: Kombination aus SEM/STEM, EELS und EDS. (Bietet ein vollständiges Bild chemischer und struktureller Eigenschaften.)

Aus technischen Gründen kommt daher nur das System der Fa. Hitachi High-Tech Europe GmbH in Betracht.     Der Text wurde entsprechend Ihrer Vorgaben formatiert. Zeilenumbrüche innerhalb von Absätzen wurden entfernt, und Aufzählungen wurden als Listen dargestellt.