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Titel
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Liefeung von Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
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VergabeverfahrenVergebener Auftrag
Lieferauftrag (VOL)
AusführungsortDE-15236 Treplin
TED Nr.341638-2017
Beschreibung

Abschnitt I:


I.1) IHP GmbH

Im Technologiepark 25

15236 Frankfurt (Oder)


E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com

Internet: www.ihp-microelectronics.com


I.2) Gemeinsame Beschaffung


I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers Andere: Forschung und Entwicklung


I.5) Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung


Abschnitt II: Gegenstand


II.1) Umfang der Beschaffung


II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie. Referenznummer der Bekanntmachung: IHP-2017-038


II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38000000


II.1.3) Art des Auftrags Lieferauftrag


II.1.4) Kurze Beschreibung: Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen. In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.


II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein


II.1.7) Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)


II.2) Beschreibung


II.2.1) Bezeichnung des Auftrags


II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s)


II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE403


II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen. In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.


Plattform:- — Apertureless Nahfeld-Scan-Technologie für hochwertige optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen, organischen Polymeren, ohne Verwendung von Fasern. — Fähigkeit, Frequenzbereich von sub-THz bis hin zu sichtbarem Spektrum zu akzeptieren — Anforderung an eine hochstabile Atomkraftmikroskopie (AFM) optimierte Einrichtung, die für alle Proben geeignet ist, die mit der Standard-AFM-Technik kompatibel sind. Standard AFM Probenvorbereitung erforderlich — räumliche Auflösung in der Größenordnung von 10 nm. Die räumliche Auflösung sollte durch die AFM-Spitze definiert werden. — Das Werkzeug sollte modular sein, wo verschiedene Bild- und Spektroskopiemodule hinzugefügt werden können, um die Funktionalität des Werkzeugs zu erhöhen


Imaging und Detektion System: - — Fähigkeit zur Abbildung im visuellen Spektrum und MID-IR-Spektrumbereiche. — Fähigkeit zur elektrischen Feldabbildung von organischen, anorganischen, Halbleiterproben und plasmonischen Strukturcharakterisierung. — Fähigkeit zur Charakterisierung von 2D-Halbleitern mit Empfindlichkeit bis zur Einzelmonoschicht. — Sollte die Nano-Imaging-Fähigkeit mit austauschbaren sichtbaren Strahlengang-Konfiguration und MID-IR-Strahlengang Konfiguration. — Anforderung eines interferometrischen Strahlengangs für optische Amplituden- und Phasendetektion. — Anforderung von Reflexions- und Getriebeerkennungsmodulen. — Die Module sollten in der Lage sein, den Frequenzbereich von Sub-THz zu sichtbarem Spektrum zu erfassen. — Anforderung einer modularen und austauschbaren Strahlteileranordnung für unterschiedliches Betriebs- betrieb. — Für den interferometrischen Strahlengang für Amplituden- und Phasenmessungen sollte der Detektor in der Lage sein, eine Amplituden- und Phasenauflösungserfassung zu ermöglichen. — Abmessungen der Bodenbeleuchtung für den Transmissionsmodus-Detektor möglich. — Der Übertragungsmodus-Detektor sollte für die Wellenwellenbeleuchtung geeignet sein.


Nahfeld-Spektroskopie-Modul (FTIR) — Fähigkeit des Nahfeldes Nano FTIR. — Das FTIR-Modul sollte auch interferometrisches Design aufweisen, das gleichzeitig den Brechungsindex und die Extinktion messen kann. — Ermöglicht das Erreichen eines hohen Signal-Rausch-Verhältnisses des Spektroskopiesignals durch Entkoppeln des Hintergrund-Rauschens.


TeraHertz Zeitbereich Spektroskopie — Fähigkeit, Nahfeld Tera Hertz Bildgebung und Spektroskopie. — Ermöglicht die Messung des Frequenzbereichs von 0,1 THz bis 3 THz. — Fähigkeit der Zeitdomäne THz Spektroskopie. — Die Arbeit des Werkzeuges sollte auf dem Femtosekunden-Laser basieren.


II.2.5) Zuschlagskriterien Kostenkriterium - Name: Preis / Gewichtung: 40 % Kostenkriterium - Name: Funktionalität entsprechend Anforderungen in der Leistungsbeschreibung / Gewichtung: 60 %


II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: nein


II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein


II.2.14) Zusätzliche Angaben


Abschnitt IV: Verfahren


IV.1) Beschreibung


IV.1.1) Verfahrensart Offenes Verfahren


IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem


IV.1.6) Angaben zur elektronischen Auktion


IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein


IV.2) Verwaltungsangaben


IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2017/S 084-162914


IV.2.8) Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems


IV.2.9) Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation


Abschnitt V: Auftragsvergabe


Auftrags-Nr.: IHP-2017-038 Bezeichnung des Auftrags: Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie Ein Auftrag/Los wurde vergeben: nein


V.1) Information über die Nichtvergabe Der Auftrag/Das Los wird nicht vergeben Es sind keine Angebote oder Teilnahmeanträge eingegangen oder es wurden alle abgelehnt


Abschnitt VI: Weitere Angaben


VI.3) Zusätzliche Angaben


VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren


VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten Heinrich-Mann-Allee 107 Potsdam 14473 Deutschland


VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren


VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen


VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt


VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 28.08.2017

VeröffentlichungGeonet Vergabe 140531 vom 05.09.2017