Abschnitt I:

I.1) Forschungsverbund Berlin e.V.

Rudower Chaussee 17

12489 Berlin

E-Mail: vergabe@fv-berlin.de

Internet: www.fv-berlin.de

I.2) Informationen zur gemeinsamen Beschaffung

I.3) Kommunikation Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: Internet: vergabekooperation.berlin/NetServer/TenderingProcedureDetails Weitere Auskünfte erteilen/erteilt folgende Kontaktstelle: Forschungsverbund Berlin e.V. Rudower Chaussee 17 Berlin 12489 Deutschland E-Mail: vergabe@fv-berlin.de NUTS-Code: DE300 Internet-Adresse(n): Internet: www.leibniz-fvb.de Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via: Internet: vergabekooperation.berlin/NetServer/ Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten Kontaktstellen

I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers ener Verein

I.5) Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Forschung im freien Feld

Abschnitt II: Gegenstand

II.1) Umfang der Beschaffung

II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) Referenznummer der Bekanntmachung: IKZ-2023-0024

II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38511100 Rasterelektronenmikroskope

II.1.3) Art des Auftrags Lieferauftrag

II.1.4) Kurze Beschreibung: Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und Bauelementen etabliert. Dazu werden in der Probenumgebung des TEM durch äußere Stimuli Bedingungen geschaffen, denen die untersuchte Probe oder das Bauelement unter realen Bedingungen ausgesetzt wird. Auf diese Weise lassen sich die relevanten strukturellen, chemischen und elektronischen Veränderungen auf einer breiten Größenskala bis hin zu einzelnen Atomen in-situ und in-operando visualisieren, verstehen und manipulieren. Zur reproduzierbaren Herstellung elektronentransparenter Proben für die In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie soll ein Zweistrahlrastermikroskop beschafft werden, das neben einer Elektronensäule mit einer Ionensäule zur Nanobearbeitung von Materialien ausgestattet ist. Um den hohen Ansprüchen an die strukturelle Perfektion der Proben, Reproduzierbarkeit und Durchsatz, sowie das breite Spektrum an Materialien (Halbeiter, Dielektrika, Oxide, Nitride, 2D-Materialien, organisch-anorganische Heterostrukturen) und die Vielfalt der Anwendungen (z. B. Probenbearbeitung, 3D "Slice-and-View", Herstellung von elektronischen Testdevices) gerecht zu werden, ist eine Plasma-FIB erforderlich, die neben Xenon, Argon, Sauerstoff, Stickstoff als Primärstrahl in derselben Ionenquelle nutzt. Gegenüber den üblicherweise genutzten Ga-Quellen bieten solche Plasmaquellen den Vorteil, die optimierte Ionenquelle für die jeweilige Anwendung (hoher Abtrag oder geringe Schädigung) und das jeweilige Material wählen zu können und innerhalb eines Dünnungsprozesses den Ionentyp wechseln zu können. Zur Untersuchungen von Oberflächen und Nanostrukturen soll die Elektronenquelle so gestaltet sein, dass eine Orstauflösung kleiner oder gleich 1nm für alle nutzbaren Beschlunigungsspannungen erreicht wird. Das zu beschaffende Gerät soll automatisierte Probenbearbeitung und programmierbare Workflows erlauben, um angepasste Routinen für verschiedenste Anwendungsfälle zu erarbeiten und die Prozesse zu automatisieren. Die Forschungsdaten werden nach den FAIR-Prinzipien (Findable, Accessible, Interoperable, Reusable) strukturiert gesichert, um sie mit KI basierten Tools auszuwerten und zu bearbeiten. Das Gerät soll im Rahmen eines offenen Laborkonzepts eingesetzt werden in dem Forscher*innen es unter Anleitung nutzen. Der Auftragnehmer muss die Anlage an den Verwendungsort im Physikgebäude der Humboldt-Universität zu Berlin in Adlershof (Raum 0.512), Newtonstraße 15, 12489 Berlin, liefern, dort vollständig installieren und in Betrieb nehmen. Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich. Hierbei sollen die Raummaße erfasst und mögliche magnetische Felder, akustische Signale und Bodenschwingungen detektiert werden, die sich negativ auf die Performanz auswirken können. Die Ergebnisse sind dem Angebot beizulegen. Zum Leistungsumfang gehören ebenfalls: - Bekanntgabe in dem Angebot der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile, - die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form, - Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h).

II.1.5) Geschätzter Gesamtwert

II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein

II.2) Beschreibung

II.2.1) Bezeichnung des Auftrags

II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s) 38512100 Ionenmikroskope

II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE300 Hauptort der Ausführung: Leistungsempfänger: Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V, Max-Born-Straße 2, 12489 Berlin Das Gerät muss an folgenden Verwendungsort geliefert werden: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin.

II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Es sind folgende Leistungen zu erbringen: - Lieferung des Geräts (1 Stk.) zum Verwendungsort: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin. - Installation und Inbetriebnahme. - Bekanntgabe der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile. - die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form. - Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h). Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich.

II.2.5) Zuschlagskriterien Die nachstehenden Kriterien Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt

II.2.7) Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung, des dynamischen Beschaffungssystems oder der Konzession Laufzeit in Monaten: 12 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein

II.2.10) Angaben über Varianten/Alternativangebote ternativangebote sind zulässig: nein

II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: nein

II.2.12) Angaben zu elektronischen Katalogen

II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja Projektnummer oder -referenz: EFRE 1.6/02

II.2.14) Zusätzliche Angaben

Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben

III.1) Teilnahmebedingungen

III.1.1) Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister Auflistung und kurze Beschreibung der Bedingungen: Folgende Formulare müssen zwingend ausgefüllt und über Bietercockpit eingereicht werden: - Eigenerklärung zur Eignung_VgV_23 - Erklärung gem. § 1 Abs. 2 der Frauenförderverordnung - Eigenerklärung-VO-2022-833 (Sanktionen gegen Russland) - Bieterangaben_Wettbewerbsregister Folgende Dokumente müssen ausgefüllt und eingereicht werden nur, sofern zutreffend: - Erklärung_Bieter_Bewerbergemeinschaft - Unterauftragnehmer_Eignungsleihe_VgV_UVgO - Verpflichtungserklaerung_anderer_Unternehmer

III.1.2) Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: Folgender Nachweis muss zwingend über Bietercockpit eingereicht werden: Nachweis (Kopie) über eine ungekündigte, im Rahmen und Umfang marktübliche Berufs- oder Betriebshaftpflichtversicherung für Personen-, Vermögens- und Sachschäden mit Angabe der Versicherungssumme. Der Bieter ist verpflichtet, den Versicherungsschutz bis zum Ende der Laufzeit des Vertrages oder bis zur Verjährung der Mängelansprüche aufrechtzuhalten.

III.1.3) Technische und berufliche Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: Folgende Nachweise müssen zwingend über Bietercockpit (auf eigener Vorlage, z.B. Firmenbriefpapier) eingereicht werden: - Nachweis darüber, dass der Bieter ein Mikroskop, das die in der Leistungsbeschreibung aufgeführten Mindestkriterien erfüllt, zum Zeitpunkt des Angebotes bereits hergestellt hat und dass er die Erfüllung der Mindestkriterien durch ein glaubwürdiges Experiment nachweisen kann. Als Nachweis gilt die Vorlage des Experimentergebnisses oder der Verweis auf Zitierung in einschlägigen Fachmedien. Die Erfüllung der Mindestkriterien kann auch dadurch nachgewiesen werden, dass der Bieter mindesten eine entsprechende Referenz über eine erfolgreiche Lieferung und Installation eines Geräts, das die erwähnten Mindestanforderungen erfüllt, einreicht. In diesem Fall darf die Referenz maximal aus den letzten 3 Jahren stammen (gerechnet rückwirkend ab dem Datum der Bekanntmachung zu dieser Ausschreibung). Die Referenz muss folgende Angaben enthalten: a) Name des Auftraggebers b) Kontaktdaten (Telefon / E-Mail) einer Person beim Auftraggeber, die die Auskunft über die Referenz erteilen kann c) Jahr der Leistungserbringung d) Kurzbeschreibung des Auftrags - Nachweis über das Engagement für Umwelt und Etablierung geeigneter Maßnahmen und Innovationen, um Nachhaltigkeit im Produktionsprozess zu erreichen. Der Nachweis kann durch die Einreichung einer Kopie der ISO 14001 oder EMAS-Zertifizierung oder durch die Darstellung eines selbst entwickelten und implementieren Umweltmanagementsystems erbracht werden.

III.1.5) Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen

III.2) Bedingungen für den Auftrag

III.2.1) Angaben zu einem besonderen Berufsstand Beruf angeben:

III.2.2) Bedingungen für die Ausführung des Auftrags Es bestehen gesonderte Anforderungen nach dem Berliner Ausschreibungs- und Vergabegesetz (BerlAVG), siehe Vergabeunterlagen. Gesamtschuldnerisch haftend mit bevollmächtigtem Vertreter.

III.2.3) Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1) Beschreibung

IV.1.1) Verfahrensart Offenes Verfahren

IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem

IV.1.4) Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs

IV.1.5) Angaben zur Verhandlung

IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja

IV.2) Verwaltungsangaben

IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren

IV.2.2) Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge Tag: 31.07.2023 t: 09:00

IV.2.3) Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber

IV.2.4) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können Deutsch

IV.2.6) Bindefrist des Angebots Das Angebot muss gültig bleiben bis: 29.09.2023

IV.2.7) Bedingungen für die Öffnung der Angebote Tag: 31.07.2023 Ortszeit: 09:00 Angaben über befugte Personen und das Öffnungsverfahren: entfällt

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.1) Angaben zur Wiederkehr des Auftrags Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein

VI.2) Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen Aufträge werden elektronisch erteilt Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert Die Zahlung erfolgt elektronisch

VI.3) Zusätzliche Angaben Reichen Sie neben dem elektronisch ausgefüllten Leistungsverzeichnis (Preisblatt) / Angebotsschreiben und der angeforderten Unterlagen auch ein technisches Datenblatt ein. Dieses laden Sie im AI-Bietercockpit hoch. Stellen Sie dabei sicher, dass Sie keine eigenen Geschäftsbedingungen (z.B. AGB) oder Textpassagen, die darauf verweisen, beifügen. Zahlungsplan: s. Pkt. 15 der Zusätzlichen Vertragsbedingungen_ZVB_Besonderen Vertragsbedingungen_BVB des FVB.

VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren

VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer des Landes Berlin Martin- Luther- Strasse 105 Berlin 10825 Deutschland Telefon: +49 3090138316 E-Mail: poststelle@senwtf.berlin.de Fax: +49 3090137613 Internet: www.berlin.de

VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren

VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Innerhalb von 15 Kalendertagen nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, kann ein Nachprüfverfahren bei der Vergabekammer beantragt werden (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB).

VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt

VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 26.06.2023