Original Dokumentennummer: 186429-2008

I.1) Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V, Zentrale Beschaffungsstelle, Kennedyallee 40, z. Hd. von Frau Ute Breuer, D-53175 Bonn, Tel. (49-228) 885 24 74, Fax (49-228) 885 36 76, E-Mail: Ute.Breuer@dfg.de

Internet-Adresse: www.dfg.de

Weitere Auskünfte erteilen: die oben genannten Kontaktstellen. Verdingungs-/Ausschreibungs- und ergänzende Unterlagen (einschließlich Unterlagen für den wettbewerblichen Dialog und ein dynamisches Beschaffungssystem) sind erhältlich bei: den oben genannten Kontaktstellen. Angebote/Teilnahmeanträge sind zu richten an: die oben genannten Kontaktstellen.

I.2) ART DES ÖFFENTLICHEN AUFTRAGGEBERS UND HAUPTTÄTIGKEIT(EN): Sonstiges: e.V. Sonstiges: Forschungsförderung. Der öffentliche Auftraggeber beschafft im Auftrag anderer öffentlicher Auftraggeber: Nein.

ABSCHNITT II: AUFTRAGSGEGENSTAND

II.1) BESCHREIBUNG

II.1.1) Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber: Beschaffung eines analytischen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopes mit Zubehör (DFG-GZ: A 520).

II.1.2) Art des Auftrags sowie Ort der Ausführung, Lieferung bzw. Dienstleistung: Lieferung. Kauf. Hauptlieferort: RWTH Aachen. NUTS-Code: DEA21.

II.1.3) Gegenstand der Bekanntmachung: Öffentlicher Auftrag.

II.1.5) Kurze Beschreibung des Auftrags oder Beschaffungsvorhabens: 1 Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Kryo-Transfer-System, Argon-Ionenquelle und EDX-System zur in-situ-Untersuchung von Nano-Strukturen in vitrifizierten (schock-gefrorenen) geologischen Proben Ein geeigneter Kryo-REM-Aufbau soll folgendes leisten: (1) Schock-Gefrieren feuchter Proben, (2) Präparation der gefrorenen Probe für die in-situ-Ionenpolitur und die hochauflösende Abbildung im REM, (3) Transfer der Probe unter Kryo-Bedingungen, (4) in-situ-Ionenstrahlpolitur, (5) Hochauflösende REM-Abbildung, (6) Chemische Mikroanalyse. Anforderungen und Spezifikationen: Allgemein: Alle im BIB-Kryo-REM enthaltenen Geräte müssen sowohl bei Kryo-Temperaturen, bei Raumtemperatur, als auch unter REM-Vakuumbedingungen simultan benutzbar sein. Das ganze System muss von einem einer Firma geliefert werden, die die komplette Systemverantwortung übernimmt. REM: Das REM muss die Ausstattung mit BIB, EDX-System und Kryo-Transfersystem, sowie deren simultanen Betrieb mit allen Detektoren ermöglichen. Es ist absolut notwendig, dass keine störenden Einflüsse auf den Betrieb der anderen Messeinrichtungen des REMs, wie die Detektion von Sekundär- und Rückstreuelektronen (SE/RE), vorliegen (Ausschlusskriterium). Eine Verkippung der Bühne in Richtung von BIB, EDX, SE-Detektor und Kryo-System muss möglich sein. Alle Detektoren und Strahlen müssen an einem gemeinsamen Schnittpunkt benutzt werden können. Das REM muss mit einem SE-Detektorsystem in der Probenkammer, einem In-lens-SE-Detektor (symmetrisch zur elektronenoptischen Achse), sowie einem fest am Polschuh befestigten RE-Detektor (jeder andere RE-Detektortyp würde das Risiko mechanischer Kollisionen beim Verfahren der Probenbühne beinhalten) ausgestattet sein.Das REM muss den Betrieb bei einem Strahlstrom bis zu 20nA (gemessen auf der Probe) in Kombination mit einer hohen Schärfentiefe (bis zu 2 cm bei gekippter Probe) ermöglichen. Das System muss eine in Bezug auf die chromatische Aberration korrigierte Objektivlinse enthalten, um hochauflösende Untersuchungen bei kleinen Beschleunigungsspannungen zu ermöglichen. Es muss mit 2 Monitoren und einem zusätzlichen Tisch ausgestattet sein. Um Kontamination der Detektoren und Strahlsäulen durch Redeposition des bei der Freilegung der Probenstellen abgetragenen Materials zu vermeiden, muss das REM mit einem Anti-Kontaminationssystem ausgestattet sein, das in der Lage ist, den verdampften Materialabtrag aufzusammeln. Die Auflösung des REM muss besser als 5 nm sein. Das REM muss in der Lage sein, Proben, die magnetische Phasen enthalten ohne Verschlechterung der Abbildungsqualität zu bearbeiten. Dies ist insbesondere für weitere Anwendungen auf tonhaltige Materialien, die magnetische Phasen enthalten können, von Bedeutung FCIS/BIB – Ionenquelle: Die FCIS muss mit Argon betrieben werden. Die FCIS muss einen fokussierbaren und rasterförmig ablenkbaren Ionenstrahl liefern, um ionenstrahlinduzierte SE-Bilder aufnehmen zu können. Die Ionenquelle muss sich einfach von Raster-Betrieb in einen Modus, bei dem mit einem breiten Strahl gearbeitet wird, umschalten lassen. Die Größe des Brennflecks muss einstellbar sein. Die Argon-Kanone muss bei hohen Stromdichten (1-4 mA/cm²) betrieben werden können, um gleichförmiges Polieren bei hohen Geschwindigkeiten zu ermöglichen. In Kombination mit einer Abdeckplatte muss die FCIS bei breitem Brennfleck in der Lage sein, gut polierte Querschliffe senkrecht zu Oberseite der Probe zu erzeugen, um Nanostrukturen bis zu 5 nm ohne Deformationen oder Artefakte abzubilden. Bei der Freilegung von Probenstellen müssen senkrechte Querschnitte mit einer Fläche von etwa 1 mm² innerhalb weniger Stunden hergestellt werden können. Die Ionenquelle muss mit vollständig computergesteuerter Stromversorgung geliefert werden Kryo-Einrichtungen: Das Kryo-Transfersystem muss die Handhabung und Untersuchung bereits vorher tiefgefrorener Proben (befestigt auf einem den Anforderungen entsprechenden Probenhalter) ohne das sonst übliche Spülen mit flüssigem Stickstoff ermöglichen. Weiterhin muss es mit einem separaten Dewar für die Kryo-Abschirmeinheit ausgestattet sein, um störende Vibrationen zu vermeiden. Die dazu benutzte Kammer muss im Durchmesser >= 100 mm sein. Die Probe muss direkt in die Präparationskammer überführt werden können. Das System muss über separate Kühlung für den REM-Kryoprobenhalter und die REM-Kühlfalle verfügen. Die Temperatur des REM-Kryoprobenhalters muss einfach einstellbar sein, um die gefrorenen Flüssigkeiten in der REM-Kammer zur Sublimation zu bringen. Der Dewar, der den Kryoprobenhalter kühlt, muss eine hinreichende Kapazität für eintägige Experimente aufweisen. Die Kryo-Transfer-Einrichtung muss die Benutzung angepasster Probenhalter zur schnellen und einfachen Probenbefestigung innerhalb des Kühlmittelbads ermöglichen. Eine Präparationskammer, die bei Kryo-Temperaturen betrieben werden kann, muss an die REM-Probenkammer angeschlossen sein und die Beschichtung der Probe mit metallischem Pt und C, sowie die Benutzung eines Kühlmessers (Kryo-Mikrotom) ermöglichen. EDX-System: Das EDX-System muss entsprechend ausgestattet sein, um parasitäre Vibrationen des REMs zu vermeiden, weiterhin muss es eine s/w Driftkorrektur, Software und eine 1 Maus/1 Tastatur-Option beinhalten. Das EDX-System muss eine stabile Energieauflösung bis hin zu Bor aufweisen Positionierung der Abdeckplatte: Das REM muss mit einem 3-achsigen kartesischen (xyz) Präzisionsmikromanipulatorsystem ausgestattet sein, um die Abdeckplatte an der Oberseite der Probe zu positionieren. Der Mikromanipulator muss die parallele Bewegung der Abdeckplatte sowohl entlang der x- und y-Achsen als auch der z-Achse ermöglichen. Die Positionierung der Abdeckplatte muss genauer als 50 nm erfolgen können und reproduzierbar sein. Das Positionierungssystem des Mikromanipulators muss direkt an der REM-Probenbühne angebracht werden, um mit der Probe in xyz bewegt, sowie verkippt werden zu können. Das Positionierungssystem des Mikromanipulators muss mit nutzereigenen Abdeckplatten umgehen können. Das Positioniersystem des Mikromanipulators muss sich einfach an solche Abdeckplatten anpassen lassen. Die Abdeckplatte muss aus hartem Material (z.B. W oder Mo) bestehen, um eine hinreichende Widerstandsfähigkeit gegenüber dem Ionenstrahl aufzuweisen. Sonstiges: Der Anbieter muss Einführungen anbieten, um die grundlegenden Bedienschritte aller Einrichtungen des gekauften BIB-Kryo-REMs zu erlernen. Der Anbieter muss die Eignung des zukünftigen Mikroskopraumes vor Ort überprüfen.

II.1.6) Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV): 33261110.

II.1.7) Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen (GPA): Nein.

II.1.8) Aufteilung in Lose: Nein.

II.1.9) Varianten/Alternativangebote sind zulässig: Ja.

II.2) MENGE ODER UMFANG DES AUFTRAGS

II.2.1) Gesamtmenge bzw. -umfang: 1 System. ABSCHNITT III: RECHTLICHE, WIRTSCHAFTLICHE, FINANZIELLE UND TECHNISCHE INFORMATIONEN

III.1) BEDINGUNGEN FÜR DEN AUFTRAG

III.1.2) Wesentliche Finanzierungs- und Zahlungsbedingungen bzw. Verweis auf die maßgeblichen Vorschriften (falls zutreffend): Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefritete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

III.2) TEILNAHMEBEDINGUNGEN

III.2.3) Technische Leistungsfähigkeit: Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen: Referenzliste bereits gelieferter Systeme gleichen Typs.

ABSCHNITT IV: VERFAHREN

IV.1) VERFAHRENSART

IV.1.1) Verfahrensart: Verhandlungsverfahren. Bewerber sind bereits ausgewählt worden: Nein.

IV.2) ZUSCHLAGSKRITERIEN

IV.2.1) Zuschlagskriterien: Wirtschaftlich günstigstes Angebot in Bezug auf die nachstehenden Kriterien:

1. Technischer Wert. Gewichtung: 50.

2. Preis.

IV.2.2) Es wird eine elektronische Auktion durchgeführt: Nein.

IV.3) VERWALTUNGSINFORMATIONEN

IV.3.1) Aktenzeichen beim öffentlichen Auftraggeber: UR 64/9-2 (A 520).

IV.3.2) Frühere Bekanntmachungen desselben Auftrags: Nein.

IV.3.4) Schlusstermin für den Eingang der Angebote bzw. Teilnahmeanträge: 20.8.2008.

IV.3.5) Tag der Absendung der Aufforderung zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber: 27.8.2008.

IV.3.6) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge verfasst werden können: Deutsch.

ABSCHNITT VI: ZUSÄTZLICHE INFORMATIONEN

VI.1) DAUERAUFTRAG: Nein.

VI.2) AUFTRAG IN VERBINDUNG MIT EINEM VORHABEN UND/ODER PROGRAMM, DAS AUS GEMEINSCHAFTSMITTELN FINANZIERT WIRD: Nein.

VI.5) TAG DER ABSENDUNG DIESER BEKANNTMACHUNG: 14.7.2008.