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Titel
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Lieferung von Rasterelektronenmikroskopen
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VergabeverfahrenÖffentliche Ausschreibung
Lieferauftrag (VOL)
AuftraggeberWestsächsische Hochschule Zwickau
Dr.-Friedrichs-Ring 2A
08056 Zwickau
AusführungsortDE-08056 Zwickau
Frist28.09.2015
TED Nr.320700-2015
Beschreibung

Abschnitt I:

 

I.1) Westsächsische Hochschule Zwickau

Dezernat Technik

Dr.-Friedrichs-Ring 2A

08056 Zwickau

Fax: +49 3755361132

 

E-Mail: karlheinz.englich@fh-zwickau.de

Internet: www.fh-zwickau.de

 

I.2) Art des öffentlichen Auftraggebers Einrichtung des öffentlichen Rechts

 

I.3) Haupttätigkeit(en) Bildung

 

I.4) Auftragsvergabe im Auftrag anderer öffentlicher Auftraggeber Der öffentliche Auftraggeber beschafft im Auftrag anderer öffentlicher Auftraggeber: nein

 

Abschnitt II: Auftragsgegenstand

 

II.1) Beschreibung

 

II.1.1) Bezeichnung des Auftrags durch den öffentlichen Auftraggeber: Raster-Elektronen-Mikroskop mit EDX-Detektor.

 

II.1.2) Art des Auftrags und Ort der Ausführung, Lieferung bzw. Dienstleistung

 

Lieferauftrag Hauptort der Ausführung, Lieferung oder Dienstleistungserbringung: Westsächsische Hochschule Zwickau, Technikum 1-Haus 3 Raum 207, Am Asch 6, 08056 Zwickau. NUTS-Code DED13

 

II.1.3) Angaben zum öffentlichen Auftrag, zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem (DBS) Die Bekanntmachung betrifft einen öffentlichen Auftrag

 

II.1.5) Kurze Beschreibung des Auftrags oder Beschaffungsvorhabens Raster-Elektronen-Mikroskop mit EDX-Detektor mit folgenden Mindestanforderungen

 

— Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuumbetrieb und variablen Druckbereich (10 … ca. 700 Pa); Druckeinstellung ohne Wechsel der Druckreduzierblenden bis mind. ca. 125 Pa

 

— computergesteuert, inkl. mind. 19“-Flachbildschirm

 

— ergonomische Bedienerkonsole mit integrierter Tastatur und Joystick zur Probenbewegung

 

— LaB6-Kathode (optional auch W-Kathode nutzbar)

 

— Säulenaufheizmanschette

 

— ölfreies Pumpensystem

 

— für mind. Probengröße 250 mm (Durchmesser) x 140 mm (Höhe)

 

— großes Bildfeld (6mm bei 8.5mm Arbeitsabstand, mind. 40mm bei maximalem Arbeitsabstand)

 

— Probenbühne: Vollmotorisiert, mind. 5 Achsen, X/Y mind. 120mm, Z mind. 50mm, Tilt mind. -10 bis 90°, 360° kontinuierliche Rotation, mind. 500g Probengewicht (gekippt), mind. 2 kg Probengewicht (ungekippt)

 

— Kammer-Sekundärelektronen-Detektor (Everhart-Thornley) für Hochvakuum

 

— Rückziehbarer Rückstreuelektronendetektor mit mind. 5 Segmenten

 

— SE-Detektor für Niedervakuummodus

 

— Beschleunigungsspannungen im Bereich 0.2kV-30kV, in feinen Schritten regelbar (10V)

 

— Probenstrom von 0.5pA bis 5µA

 

— Auflösung (SE): 2 nm bei 30 kV im Hochvakuum 10 nm bei 3 kV im Hochvakuum 3,5 nm bei 30 kV im variablen Druckbereich

 

— Option der Beam-Deceleration (bis 5 kV Gegenspannung an Probe)

 

— Vakuum-Trennventil für Elektronensäule (incl. Ionen-Getter-Pumpe)

 

— reduzierte Elektronenstreuung bei variablem Druck (‚Beam gas path length‘ max. 2mm)

 

— Aperturblendenwechsler mit mind. 3 Blenden mit automatischer, softwaregesteuerter Blendenausrichtung

 

— automatische Strahlzentrierung

 

— zusätzliche Flansche für Erweiterung auf vollfokussierendes WDX, EBSD

 

— Infrarotkamera zur Übersicht in der Probenkammer

 

— digitaler Bildspeicher (Auflösung mind. 3000 x 2000 Bildpunkte), Erweiterungsmöglichkeit auf 40.000x40.000 Bildpunkte

 

— Möglichkeit zur korrelativen Mikroskopie mit dem vorhandenen CLSM 700, inkl. Probenhalterung und Softwarelösung zur Wiedererkennung und Wiederauffindung von Probenstellen (mind. 20µm Präzision)

 

— mind. 10 Scangeschwindigkeiten

 

— Software zur Bildbearbeitung, -zentrierung und -vermessung (3D-Messung und -Visualisierung, Profil- und Rauheitsmessung)

 

— EDX-Detektor (SDD) mit Drift-Korrektur (mind. 30 mm , FWHM < 126 eV für Mn-Ka) für Spot, Flächen-, Linienanalysen und Mappings) incl. Analyse- und Auswertesoftware Weitere Bedingungen und Leistungen gemäß Leistungsbeschreibung der anzufordernden Verdingungsunterlagen.

 

II.1.6) Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV) 38511100 Beschreibung: Rasterelektronenmikroskope.

 

II.6) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen (GPA): nein

 

II.1.8) Lose Aufteilung des Auftrags in Lose: nein

 

II.1.9) Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein

 

II.2.2) Angaben zu Optionen

 

II.2.1) Gesamtmenge bzw. -umfang: Geschätzter Wert ohne MwSt: EUR 1.

 

II.2.2) Angaben zu Optionen Optionen: nein

 

II.2.3) Angaben zur Vertragsverlängerung

 

II.2.3) Angaben zur Vertragsverlängerung Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein Beginn der Bauarbeiten: Beginn 12.12.2015 Abschluss 31.03.2016

 

Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben

 

III.1) Bedingungen für den Auftrag

 

III.1.1) Geforderte Kautionen und Sicherheiten:

 

III.1.1) Wesentliche Finanzierungs- und Zahlungsbedingungen und/oder Verweis auf die maßgeblichen Vorschriften:

 

III.1.3) Rechtsform der Bietergemeinschaft, an die der Auftrag vergeben wird:

 

III.1.3) Sonstige besondere Bedingungen: Für die Ausführung des Auftrags gelten besondere Bedingungen: nein

 

III.2) Teilnahmebedingungen

 

III.2.1) Persönliche Lage des Wirtschaftsteilnehmers sowie Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister

 

III.2.2) Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit

 

III.2.3) Technische Leistungsfähigkeit

 

III.3) Besondere Bedingungen für Dienstleistungsaufträge

 

III.3.2) Für die Erbringung der Dienstleistung verantwortliches Personal

 

Abschnitt IV: Verfahren

 

IV.1) Verfahrensart

 

IV.1.1) Verfahrensart Offen

 

IV.1.2) Beschränkung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer, die zur Angebotsabgabe bzw. Teilnahme aufgefordert werden

 

IV.1.3) Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs

 

IV.2) Zuschlagskriterien

 

IV.2.1) Zuschlagskriterien

 

1. Erfüllung/übererfüllung der Leistungsparameter gemäß LV Gewichtung 60

 

2. Preis Gewichtung 35

 

3. Folgekosten Wartung/Support Gewichtung 5

 

IV.2.2) Angaben zur elektronischen Auktion Eine elektronische Auktion wird durchgeführt: nein

 

IV.3) Verwaltungsangaben

 

IV.3.1) Aktenzeichen beim öffentlichen Auftraggeber: ÖA 02/15

 

IV.3.2) Frühere Bekanntmachung(en) desselben Auftrags nein

 

IV.3.3) Bedingungen für den Erhalt von Ausschreibungs- und ergänzenden Unterlagen bzw. der Beschreibung Schlusstermin für die Anforderung von Unterlagen oder die Einsichtnahme: 28.09.2015 - 10:00 Kostenpflichtige Unterlagen: nein

 

IV.3.4) Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge 02.11.2015 - 10:00

 

IV.3.5) Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber

 

IV.3.6) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge verfasst werden können Deutsch

 

IV.3.7) Bindefrist des Angebots bis: 12.12.2015

 

IV.3.8) Bedingungen für die Öffnung der Angebote Tag: 03.11.2015 - 9:00 Personen, die bei der Öffnung der Angebote anwesend sein dürfen: nein

 

Abschnitt VI: Weitere Angaben

 

VI.1) Angaben zur Wiederkehr des Auftrags Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein

 

VI.2) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union

 

Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der Europäischen Union finanziert wird: nein

 

VI.3) Zusätzliche Angaben

 

VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren

 

VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren 1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen PF 10 13 64 04013 Leipzig Deutschland E-Mail: post@lds.sachsen.de Telefon: +49 3419773800 Fax: +49 3419771049

 

VI.4.2) Einlegung von Rechtsbehelfen

 

VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung: 09.09.2015

VeröffentlichungGeonet Ausschreibung 134209 vom 14.09.2015