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Titel
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Beschaffung von Rasterelektronenmikroskope
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VergabeverfahrenÖffentliche Ausschreibung
Lieferauftrag (VOL)
AuftraggeberDeutsche Forschungsgemeinschaft e.V. Zentrale Beschaffungsstelle
Kennedyallee 40
53175 Bonn
AusführungsortDE-78224 Singen
Frist24.09.2018
Vergabeunterlagenwww.dfg.de/…/index.html
TED Nr.372006-2018
Beschreibung

Abschnitt I:


I.1) Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.

Zentrale Beschaffungsstelle

Kennedyallee 40

53175 Bonn

Fax: +49 228885-713311

Telefon: +49 228885-2474


E-Mail: Ute.Breuer@dfg.de

Internet: www.dfg.de


I.2) Gemeinsame Beschaffung Der Auftrag wird von einer zentralen Beschaffungsstelle vergeben


I.3) Kommunikation Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: Internet: www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_beschaffungsstelle/index.html Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten Kontaktstellen


I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers Andere: e.V.


I.5) Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Forschungsförderung


Abschnitt II: Gegenstand


II.1) Umfang der Beschaffung


II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops Referenznummer der Bekanntmachung: ZUK 52/2018 (A 759)


II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38511100


II.1.3) Art des Auftrags Lieferauftrag


II.1.4) Kurze Beschreibung: Beschafft werden soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Nanoanalytik mit folgenden Spezifikationen: 1 Beschleunigungsspannung von 100 V bis 30 kV 2 Gleichzeitig nutzbare Sekundärelektronendetektoren und Rückstreudetektoren 3 Laterale Auflösung: 1 nm zwischen 1 kV und 30 kV, 1.5 nm unter 1 kV für Proben im magnetfeldfreien Raum 4 Strahlstrom 5 pA – 10 nA mit Stabilität +/- 0.3 % über 1 Stunde 5 60o kipp- und 360o drehbarer Probenteller 6 Schneller Probenwechsel (< 3min) auch für Proben mit Ø > 50 mm 7 EDX-Modul mit Software, Drift-Korrektur und quantitativer Kartierung 8 EBSD inkl. kompletter Software zur Nachbearbeitung, Interpretation und Darstellung der Daten 9 Niedrigvakuum(VP)-Betrieb mit Auflösung < 2 nm (auch < 5 kV) 10 Schnelle Strahlaustastung 11 Benutzerfreundliche Softwaresteuerung, einstellbare Bildspeichertiefe (mindestens 16000 x 16000 Pixel bei höchster Speichertiefe), Windows 10, Netzwerkanschluss 12 Serviceangebote für Wartungen und Reparaturen


II.1.5) Geschätzter Gesamtwert


II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein


II.2) Beschreibung


II.2.1) Bezeichnung des Auftrags


II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s)


II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE138 Hauptort der Ausführung: Universität Konstanz


II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Zu 1-3: Untersuchungsgegenstände sind Nanopartikel und (hybride) Nanostrukturen, die eine vielfältige Materialpalette abdecken und auf verschiedensten Substraten aufliegen. Die Größen reichen von wenigen bis hin zu mehreren 100 Nanometern in ein-, zwei- oder dreidimensionaler Anordnung. Wegen der Vielzahl der verwendeten Materialien muss ein weiter Bereich von Beschleunigungsspannungen (100 V bis 30 kV) abgedeckt werden sowie verschiedene Detektoren vorhanden sein, um die Probenschädigung möglichst gering zu halten, und verschiedene Kontrastverfahren nutzen zu können. Weiterhin ist eine möglichst hohe Auflösung wichtig, da viele der untersuchten Strukturen sehr klein sind, bzw. es auf möglichst detailgetreue Abbildung ankommt. Hieraus ergibt sich die Spezifikation einer lateralen Auflösung von besser als 1 nm im Spannungsbereich 1 kV bis 30 kV und mindestens 1.5 nm im unteren Spannungsbereich. Verschiedene Detektoren (Sekundärelektronendetektoren, Rückstreudetektoren (BE)) müssen im Vakuum und im Niedrigvakuumbetrieb (VP-Modus) und bei variabler Spannung gleichzeitig auslesbar und auf dem Monitor darstellbar sein. Im VP-Modus ist eine laterale Auflösung von 2 nm im Spannungsbereich von 5 kV bis 30 kV nachzuweisen. Zur Untersuchung von Proben aus stark magnetischen Nanopartikeln muss die Auflösung auch ohne Vorhandensein eines Magnetfeldes im Bereich der Probe erreicht werden. 4: Das Gerät soll mit einer thermisch-gestützten Feldemissionskathode ausgerüstet sein, um sowohl die hohe laterale Auflösung als auch hohe Strahlstabilität (besser 0.3 % über eine Stunde) für Langzeitmessungen (z.B. Kartierungen der Elementzusammensetzung und Kristallorientierung) zu gewährleisten. Der Strahlstrombereich soll zwischen 5pA und 10 nA in mindestens 10 logarithmischen Stufen oder kontinuierlich einstellbar sein. 5: Der Probenhalter muss um mindestens 60o kippbar und auch im gekippten Zustand über den Vollkreis drehbar sein. 6: Der schnelle Probenwechsel (< 3 min) ermöglicht hohen Durchsatz, da es sich um eine Nutzereinrichtung mit bis zu 30 Probenwechseln am Tag handelt. Er sollte durch eine Schleuse für Proben bis zu 50 mm Durchmesser realisiert werden, um Kontamination durch häufige Belüftung zu unterbinden. 7,8: Röntgenanalyse (EDX) und Elektronenrückstreuanalyse (EBSD) mit Drift-Korrektur und Software zur voll automatisierten Datenerfassung und Analyse werden benötigt für die Bestimmung der Elementzusammensetzung, Bestimmung der Struktur-Eigenschaftsbeziehungen von Nanopartikel-Überstrukturen, und Bestimmung der Kristallorientierung der Bestandteile der Nanostrukturen. Beide Funktionen müssen auch im Niedervakuumbetrieb nutzbar sein. 9: Ein VP-Modus mit Drücken bis hinauf zu 150 Pa wird benötigt, um EDX und EBSD Messungen sowie automatisierte Kartierungen an nichtleitenden Proben vorzunehmen. Alle Kontrastverfahren müssen im VP-Modus nutzbar sein. 10: Die schnelle Strahlaustastung (elektrostatischer beam blanker) dient dazu mit Hilfe einer später nachzurüstenden Lithographie-Einheit nichtleitende Proben in der Niedrigvakuum-Funktion ohne zusätzliche Beschichtung strukturieren zu können. 11: Das Gerät wird von vielen, häufig wechselnden Nutzern bedient. Deswegen ist eine zuverlässige Bedienoberfläche notwendig. Die Bildauflösung muss mindestens 16000 x 16000 Pixel betragen. Die große Menge anfallender Daten muss an die Speicherorte der Nutzer übertragen werden zur langfristigen Speicherung. Zur Einbindung in das Netzwerk der Universität können nur Betriebssysteme ab Windows 10 verwendet werden. 12: Wegen der zu erwartenden hohen Auslastung muss das Gerät regelmäßig gewartet werden, um längerfristigen Ausfall zu vermeiden. Aufgrund der zentralen Bedeutung des Geräts für viele Forschungsprojekte muss ein kurzfristig zur Verfügung stehender, zuverlässiger Service gewährleistet sein und die Modalitäten dafür (Kosten, Vorlaufzeit) sollen im Angebot vermerkt sein. Ein Wartungsvertrag selbst ist NICHT Gegenstand dieser Ausschreibung.


II.2.5) Zuschlagskriterien Die nachstehenden Kriterien Qualitätskriterium - Name: Technsicher Wert / Gewichtung: 50 Preis - Gewichtung: 50


II.2.7) Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung, des dynamischen Beschaffungssystems oder der Konzession Laufzeit in Monaten: 3 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein


II.2.10) Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: ja


II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: nein


II.2.12) Angaben zu elektronischen Katalogen


II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein


II.2.14) Zusätzliche Angaben Zu II.2.7.): Es handelt sich um einen einmaligen Lieferauftrag OHNE Laufzeiten, das Formular erfordert in diesem Feld jedoch eine Eingabe


Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben


III.1) Teilnahmebedingungen


III.1.1) Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister


III.1.2) Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit


III.1.3) Technische und berufliche Leistungsfähigkeit


III.1.5) Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen


III.2) Bedingungen für den Auftrag


III.2.1) Angaben zu einem besonderen Berufsstand Beruf angeben:


III.2.2) Bedingungen für die Ausführung des Auftrags Anzahlung bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.


III.2.3) Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal


Abschnitt IV: Verfahren


IV.1) Beschreibung


IV.1.1) Verfahrensart Verhandlungsverfahren


IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem


IV.1.4) Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs


IV.1.5) Angaben zur Verhandlung


IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein


IV.2) Verwaltungsangaben


IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren


IV.2.2) Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge Tag: 24.09.2018


IV.2.3) Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber Tag: 01.10.2018


IV.2.4) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können Deutsch


IV.2.6) Bindefrist des Angebots


IV.2.7) Bedingungen für die Öffnung der Angebote


Abschnitt VI: Weitere Angaben


VI.1) Angaben zur Wiederkehr des Auftrags Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein


VI.2) Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen


VI.3) Zusätzliche Angaben Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. II.1.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben. Die vollständigen Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb sind hier veröffentlicht. Weitergehende Auftragsunterlagen werden mit der Angebotsaufforderung nach dem Schlusstermin für Teilnahmeanträge versendet. Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.2.2) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.2.2) werden keine Vergabeunterlagen versendet.


VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren


VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer des Bundes Villemomber Straße 76 Bonn 53123 Deutschland


VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren


VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten wir eine entsprechende Information.


VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt


VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 23.08.2018

VeröffentlichungGeonet Ausschreibung 146214 vom 28.08.2018