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Titel
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Lieferung von Laborgeräten, optischen Geräten und Präzisionsgeräten (außer Gläser)
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VergabeverfahrenVergebener Auftrag
Lieferauftrag (VOL)
AuftragnehmerNeaspec GmbH
Martiensried
AusführungsortDE-15236 Treplin
TED Nr.465904-2017
Beschreibung

Abschnitt I:


I.1) IHP GmbH

Im Technologiepark 25

15236 Frankfurt an der Oder


E-Mail: rohner@ihp-microelectronics.com

Internet: www.ihp-microelectronics.com


I.2) Gemeinsame Beschaffung


I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers Andere: Forschung und Entwicklung


I.5) Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung


Abschnitt II: Gegenstand


II.1) Umfang der Beschaffung


II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: Scattering type Scanning near Field Microscope (SNOM). Referenznummer der Bekanntmachung: IHP-2017-038_2


II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38000000


II.1.3) Art des Auftrags Lieferauftrag


II.1.4) Kurze Beschreibung: Das Rasternahfeldmikroskop muss in der Lage sein, bildgebend und spektroskopisch Standardhalbleiterproben, 2-dimensionales Material (z. B. Graphen), organisches und anorganisches Material und Biomaterialien zu untersuchen. Das Arbeitsprinzip muss dem Atomkraftmikroskop (AFM), wo mittels AFM-Spitze (tip) die Probe bildgebend untersucht wird, entsprechen. Der Abbildungsfokus der Spitze liegt im Nanometerbereich. Die Plattform: Blendenfreies Nahfeldrastern für hochqualitative optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen und organischer Polymere ohne Faseroptik. Das System muss bildgebend im Bereich sub-THz bis sichtbarem Licht sein. Das System muss im konventionellen AFM modus einsetzbar sein Eine räumliche Auflösung von 10nm (vorgegeben durch die AFM Spitze) ist erforderlich. Ein modularer Aufbau des Mikroskops, mit der Fähigkeit durch weitere Module die Funktionalität zu erhöhen, ist wichtig.


II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein


II.1.7) Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.) Wert ohne MwSt.: 646.450,00 EUR


II.2) Beschreibung


II.2.1) Bezeichnung des Auftrags


II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s)


II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE403


II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Atomkraftmikroskop: Für die oben beschriebene Plattform ist ein kompakter Aufbau mit einfacher, motorisierter Probeneinschleusung und Auswahl des Untersuchungsgebietes erforderlich. Es muss eine Rastergeschwindigkeit bis 20 Müm/s realisierbar sein. Ein hohes Signal/Rauschverhältnis ist bei Unterdrückung des optischen Untergrundsignales erforderlich. Dazu ist ein Tasten der AFM-Spitze (tapping) erforderlich, bei dem die Spitze nur das optische Signal und nicht den Hintergrund moduliert. Die AFM-Spitze muss bis zu einem horizontalen Winkel von 180Grad und vertikal bis 60Grad bildgebend und spektroskopisch wirksam sein. Standard AFM cantilever müssen einsetzbar sein. Optische Hellfeldmikroskopie ist erforderlich. Ein effektives Spiegeldesign zum Sammeln und Bündeln von Licht ist erforderlich. Der Aufbau muss Bildgebung und Spektroskopie ermöglichen. Die Bildgebung und Detektierung muss: Im sichtbaren, MID-IR und THz-Bereich (0.3 – 3THz) durchführbar sein. Organisches, anorganisches, halbleitendes Material und plasmonische Strukturen mittels „Mapping“ des elektrischen Feldes charakterisieren. In der Lage sein, im Nanometerbereich sowohl im sichtbarem als auch im MID-IR abbildend zu arbeiten. Interferometrisch für optische Amplituden- und Phasenbestimmung arbeiten. Amplituden- wie auch phasenspezifisch sein Für Reflektion als auch Durchstrahlung (Transmission) einsatzfähig sein. In der Lage sein, im Frequenzbereich von sub-THz bis sichtbares Licht zu detektieren. Für verschiedenste Operationen einen Strahlteiler haben, der modular und auswechselbar aufgebaut ist. Im Durchstrahlungsmodus die Probe von der Rückseite beleuchten. Dazu ist die Beleuchtung mit planarem Licht erforderlich. Nahfeldbelichtungseinheit mit 633nm Wellenlänge haben. Nahfeldbelichtungseinheit mit einer durchstimmbaren Wellenlänge zwischen 9,3Müm – 10,8Müm haben. Nahfeldspektroskopie für fouriertransformietres Infrarot (FTIR) Nahfeld nanoFTIR ist erforderlich. Mit einer durchstimmbaren FTIR-Lichtquelle zwischen 5 – 15Müm. Das FTIR Modul muss zur gleichzeitigen Bestimmung des Brechungsindexes und der Absorption einsetzbar sein. Ein hohes Signal/Rauschverhältnis muss durch Entkoppeln des Hintergrundrauschens vom spektroskopischen Signal erreicht werden. TeraHertz zeitbasierte Spektroskopie (THZ-TDS) Das Gerät muss zur Nahfeldbildgebung und -spektroskopie in der Lage sein. Die Messfrequenzen liegen zwischen 0,1 THZ und 3 THz. Das Gerät muss zur zeitbasierten Spektroskopie in der Lage sein. Das Gerät muss dafür einen Femtosekundenlaser einsetzen. Kontrollsystem und Software Es ist ein motorisiertes System zur Probenpositionierung erforderlich. Das Gerät darf keine zusätzliche Vakuumkammer zur Messung erfordern. Die optische Signalverarbeitungseinheit und der Scancontroller müssen synchron mit der AFM Mechanik und dem optischen Signal sein. Die Software und Signalprozessierung muss in der Lage sein, das optische Untergrundsignal zu unterdrücken. Entsprechend muss Software für optische Bildgebung und der Spektroskopiemodule vorhanden sein. Eine Echtzeitvisualisierung ist erforderlich. Kontroll- und Scansoftware für AFM und optische Signale ist erforderlich. Die Kontroll- und Datenverarbeitungseinheit muss 1D, 2D und 3D Scans unterstützen. Es ist Software zur Datenvisualisierung und Analyse der AFM-Topografie und optischen Nahaufnahme erforderlich. Zur nutzerfreundlichen Echtzeitarbeit sind 2 Displays mit 23Zoll erforderlich. Es muss ein Fernzugriff durch den Nutzer integriert sein, ebenso ist eine Bedienungsanleitung für Hard- und Software einschließlich technischer Spezifikation erforderlich.


II.2.5) Zuschlagskriterien Kostenkriterium - Name: Preis / Gewichtung: 40 % Kostenkriterium - Name: Funktionalität entsprechend Anforderungen in der Leistungsbeschreibung / Gewichtung: 60 %


II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: nein


II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein


II.2.14) Zusätzliche Angaben


Abschnitt IV: Verfahren


IV.1) Beschreibung


IV.1.1) Verfahrensart Offenes Verfahren


IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem


IV.1.6) Angaben zur elektronischen Auktion


IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein


IV.2) Verwaltungsangaben


IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren


IV.2.8) Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems


IV.2.9) Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation


Abschnitt V: Auftragsvergabe Auftrags-Nr.: 2171705 Bezeichnung des Auftrags: Scattering type Scanning near Field Microscope (SNOM) Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja


V.2) Auftragsvergabe


V.2.1) Tag des Vertragsabschlusses 01.11.2017


V.2.2) Angaben zu den Angeboten Anzahl der eingegangenen Angebote: 2 Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein


V.2.3) Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde Neaspec GmbH Martiensried Deutschland NUTS-Code: DE212 Der Auftragnehmer ist ein KMU: nein


V.2.4) Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.) Gesamtwert des Auftrags/Loses: 646.450,00 EUR


V.2.5) Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen


Abschnitt VI: Weitere Angaben


VI.3) Zusätzliche Angaben


I.1) Name und Adressen: Nationale Identifikationsnummer: 2017/S 112-225014


VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren


VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten Heinrich-Mann-Allee 107 Potsdam 14473 Deutschland


VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren


VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen


VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt


VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 20.11.2017

VeröffentlichungGeonet Vergabe 141451 vom 28.11.2017